Il 5 luglio 2016 l’Assemblea della Camera dei deputati ha definitivamente approvato l’AC. 559-B, che introduce nel codice penale il reato di frode processuale e depistaggio, definendone le conseguenze penali.
Il nuovo delitto (art. 375 c.p.)
L’articolo 1 sostituisce l’art. 375 del codice penale (attualmente relativo alle circostanze aggravanti dei delitti di falsità processuale) per punire con la reclusione da 3 a 8 anni il pubblico ufficiale o l’incaricato di pubblico servizio che compia una delle seguenti azioni, finalizzata ad impedire, ostacolare o sviare un’indagine o un processo penale:
- mutare artificiosamente il corpo del reato, lo stato dei luoghi o delle cose o delle persone connessi al reato;
- affermare il falso o negare il vero ovvero tacere in tutto o in parte ciò che sa intorno ai fatti sui quali viene sentito, ove richiesto dall’autorità giudiziaria o dalla polizia giudiziaria di fornire informazioni in un procedimento penale.
La norma ha carattere sussidiario, essendo applicabile solo quando il fatto non presenti gli estremi di un più grave reato.
Il nuovo reato è aggravato quando:
- il fatto è commesso mediante distruzione, soppressione, occultamento, danneggiamento, in tutto o in parte, ovvero formazione o artificiosa alterazione, in tutto o in parte, di un documento o di un oggetto da impiegare come elemento di prova o comunque utile alla scoperta del reato o al suo accertamento (la pena da applicare è aumentata da un terzo alla metà);
- il fatto è commesso in relazione a procedimenti penali relativi ad alcun specifici gravi reati (si applica la pena della reclusione da 6 a 12 anni).
La pena è diminuita dalla metà a due terzi se l’autore del fatto si adopera per:
- ripristinare lo stato originario dei luoghi, delle cose, delle persone o delle prove;
evitare che l’attività delittuosa venga portata a conseguenze ulteriori - aiutare concretamente l’autorità di polizia o l’autorità giudiziaria nella ricostruzione del fatto oggetto di inquinamento processuale e depistaggio e nell’individuazione degli autori.
Clicca qui per maggiori informazioni.
